Bộ phận gia nhiệt đầu dò tấm bán dẫn

Trên sàn sản xuất, một lần lệch nhiệt độ trong quá trình dò thử wafer không chỉ làm mất thời gian chu trình. Nó phá hủy die, ảnh hưởng nghiêm trọng...