Aşağıda, “Sondaj” sınıflandırma terimini kullanan sayfaları bulacaksınız. Yarı iletken plaka prob ısıtıcısı Fab alanında Wafer problama sırasında yaşanan bir sıcaklık kayması, sadece döngü süresini uzatmakla kalmaz. Bu, die’leri israf eder, verimi... Read more...
Yarı iletken plaka prob ısıtıcısı Fab alanında Wafer problama sırasında yaşanan bir sıcaklık kayması, sadece döngü süresini uzatmakla kalmaz. Bu, die’leri israf eder, verimi... Read more...
