X線回折 XRD 加熱ランプ

計測フロアでは、XRDの測定結果はステージの熱安定性に依存する。0.5℃のドリフトが格子定数の測定値を変動させ、これによりウェハがリワークに回され、リソグラフィのベイク温度が仕様外になるリスクがある。この不確実性の発生源に直接働きかけるために、XRD加熱ランプを設計した。 内部仕様のポイント ラン...